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宽带光学薄膜测厚仪
  • 宽带光学薄膜测厚仪SR500是angstec公司光学薄膜测厚仪测量薄膜光学常量折射率n-孚光精仪

宽带光学薄膜测厚仪

这款宽带光学薄膜测厚仪是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率,测量薄膜荧光等,这款宽带光学薄膜厚度测量仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量折射率n和k)。测量薄膜厚度范围:2nm -150um,波长范围250-1700nm
型号:
FRANG-SR500
品牌:
孚光精仪
价格:
¥0.00
类别:
在线客服邮箱 info@felles.cn 服务热线021-51300728 您也可网站留言或在线客服留言垂询,孚光精仪-领先的进口精密仪器服务商欢迎您!

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这款宽带光学薄膜测厚仪是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率,测量薄膜荧光等,款宽带光学薄膜厚度测量仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量折射率n和k)。
这套光学薄膜测厚仪基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k).
光学薄膜厚度测量仪到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。
宽带光学薄膜测厚仪
宽带光学薄膜测厚仪特点
易于安装
软件基于Windows系统,方便使用
先进光学设计,良好系统表现
阵列光谱探测器保证快速测量
测量薄膜厚度和折射率高达5层
可测量反射,透射和吸收光谱
可用于实时在线的薄膜厚度和折射率测量
具有齐全的材料光谱舍数据库
可升级到显微分光光度计
适合不同衬底和不同薄膜厚度测量
宽带光学薄膜测厚仪参数
波长范围:250-1700nm
光点大小:500um - 5mm
样品大小:200x200mm 或200mm 直径
衬底厚度: 高达50um
测量薄膜厚度范围: 2nm -150um
测量时间:最小2ms
精度:0.5%
重复精度:<1A
宽带光学薄膜测厚仪应用
半导体制造
液晶显示屏测量
刑侦
生物膜测量
矿石地质分析
制药医学分析
光学镀膜测量
功能薄膜MEMS测量
太阳能电池薄膜测量

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