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便携式薄膜测厚仪
  • 便携式薄膜测厚仪_便携式光学薄膜厚度测量仪适合薄膜厚度测量和薄膜透过率测-孚光精仪

便携式薄膜测厚仪

这款便携式薄膜测厚仪是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,用于透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度测量,薄膜吸收率测量,薄膜透过率测量,薄膜反射率测量,薄膜荧光测量等,这款手持式薄膜测厚仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量,测量薄膜折射率n和k,薄膜厚度测量范围为350-1000nm.
型号:
FPTHE-FR-pOrtable
品牌:
孚光精仪
价格:
¥0.00
类别:
在线客服邮箱 info@felles.cn 服务热线021-51300728 您也可网站留言或在线客服留言垂询,孚光精仪-领先的进口精密仪器服务商欢迎您!

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这款便携式薄膜测厚仪是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,用于透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度测量,薄膜吸收率测量,薄膜透过率测量,薄膜反射率测量,薄膜荧光测量等,这款手持式薄膜测厚仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量,测量薄膜折射率n和k,薄膜厚度测量范围为350-1000nm.
这款便携式薄膜测厚仪不需要电线连接,也不需要实验室安装空间,它从USB连接中获取工作电源,这种独特设计方便客户移动测量,只需USB线缆从计算机控制测量即可。
这款便携式薄膜测厚仪采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪,具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源,光源寿命高达20000小时,
便携式薄膜测厚仪
便携式薄膜测厚仪产品特色
USB接口供电,不需要额外的线缆供电
超级便携
方便现场使用
超低价格
便携式薄膜测厚仪参数 
可测膜厚: 15nm-90微米;
波长范围: 360-1050nm
探测器:3648像素Si CCD阵列,16bit A/D
精度:1nm
斑点大小:>0.5mm 
光源:LED混合光源( 360-1050nm )
所测样品大小:10-150mm,
计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;
尺寸:300x110x500mm 
重量:600克
便携式薄膜测厚仪应用
用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,
用于化学和生物薄膜测量,传感测量
用于光电子薄膜结构测量  
用于半导体制造
用于聚合物薄膜测量 
在线薄膜测量
光学镀膜测量

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